Kai Siegbahn
Kai Manne Börje Siegbahn (20. huhtikuuta 1918 – 20. heinäkuuta 2007) oli ruotsalainen fyysikko. Siegbahnille, Arthur Schawlowille ja Nicolaas Bloembergenille myönnettiin Nobelin fysiikanpalkinto vuonna 1981 korkearesoluutioisen elektronispektroskopian kehittämisestä. Siegbahn työskenteli aktiivisesti Ångström-laboratoriossa, Uppsalan yliopistossa.
| Kai Siegbahn | |
|---|---|
 |
|
| Henkilötiedot | |
| Syntynyt | 20. huhtikuuta 1918 Lund, Ruotsi |
| Kuollut | 20. heinäkuuta 2007 Ängelholm, Ruotsi |
| Kansalaisuus |
 ruotsalainen |
| Koulutus ja ura | |
| Tutkinnot | Tukholman yliopisto |
| Instituutti |
Tukholman yliopisto Uppsalan yliopisto |
| Tutkimusalue | fysiikka |
| Tunnetut työt | Korkea tarkkuuksinen elektronispektroskopian kehittäminen |
| Palkinnot |
 Nobelin fysiikanpalkinto (1981) |
Elämäkerta
muokkaaKai Siegbahn syntyi vuonna 1918 Lundissa, Ruotsissa. Hän oli Nobelin fysiikanpalkinnon voittaneen Karl Manne Siegbahnin sekä Karin Högbomin poika.[1] Siegbahn kävi Uppsalan lukiota ja jatkoi opiskelua Uppsalan yliopistossa sekä Tukholman yliopistossa. Siegbahn väitteli Tukholman yliopistossa filosofian tohtoriksi vuonna 1944.
Siegbahn sai fysiikan professuurin Kuninkaallisesta teknillisestä korkeakoulusta vuonna 1951 ja kolme vuotta myöhemmin siirtyi Uppsalan yliopistoon, jossa hän toimi professorina vuonna 1984 tapahtuneeseen eläköitymiseensä asti.[2]
Siegbahn solmi avioliiton Anna Brita Rhedinin kanssa 23. toukokuuta vuonna 1944. Suhteeseen syntyi kolme poikaa: Per (1945), Hans (1947) ja Nils (1953).[1]
Tieteellinen ura
muokkaaNobel-palkitussa työssään Siegbahn luo pohjan niin sanotulle XPS-tekniikalle (käytetään myös lyhennystä ESCA) sekä kehitti tarvittavia hienostuneita instrumentteja käyttötarkoitusta varten.[2] XPS perustuu pohjimmiltaan valosähköiseen ilmiöön, jossa elektroneja emitoituu, kun metalleihin kohdistetaan tarpeeksi suuri taajuista sähkömagneettista säteilyä. Siegbahnin saavutus oli se, että hän kehitti menetelmän, jonka avulla pystytään mittaamaan emitoituneiden elektronien energia, joka on kullekin alkuaineelle ominainen. XPS mahdollistaa vetyä ja heliumia lukuun ottamatta aineiden pintakerrosten alkuainejakauman analysoinnin 0,1 atomiprosentin pitoisuuksiin saakka. XPS ei vaurioita tutkittavaa näytettä ja se soveltuu johteiden, puolijohteiden sekä eristemateriaalien tutkimukseen. XPS:n avulla voidaan erottaa pinnan kemiallisen koostumuksen lisäksi myös pinnalla olevat yhdistemuodot, kuten esimerkiksi fluorin ioniset ja kovalenttiset sidokset.[3]
Lähteet
muokkaa- ↑ a b Kai M. Siegbahn NNDB.com. Viitattu 20.10.2007. (englanniksi)
- ↑ a b Kai Manne Börje Siegbahn Encyclopaedia Britannica. Viitattu 20.10.2007. (englanniksi)
- ↑ Valden, Mika: XPS/ESCA: Röntgenviritteinen fotoelektronispektroskopia. akseli.tekes.fi. Viitattu 20.10.2007.[vanhentunut linkki]
Aiheesta muualla
muokkaa- Curriculum Vitae Nobel-säätiön sivuilla (englanniksi)
- Lyhyt elämäkerta Siegbahnista (Arkistoitu – Internet Archive) (englanniksi)