Ero sivun ”Röntgendiffraktio” versioiden välillä

[arvioimaton versio][arvioimaton versio]
Poistettu sisältö Lisätty sisältö
p fix ISBN
p kielen- yms. huoltoa AWB
Rivi 5:
 
==Historia==
[[Kuva:Max_von_LaueMax von Laue.jpg|thumb|right|150px|Max von Laue]]
[[Wilhelm Röntgen]]in löydettyä röntgensäteilyn 1895 ei kestänyt kauan, että se jo löysi sovellutuksia, jotka perustuivat röntgensäteilyn [[absorptio]]on. Vuonna [[1912]] keksittiin uusi tapa käyttää röntgensäteilyä, kun [[Max von Laue]]n idean perusteella röntgensäteiden diffraktio kiteestä todennettiin kokeellisesti. Pian löydön jälkeen vuosina [[1913]] ja [[1914]] [[William Bragg|William Henry Bragg]] ja [[William Lawrence Bragg]] omalta osaltaan edistivät havainnon kehittämistä menetelmäksi. Laue sai löydöstä [[Nobelin fysiikanpalkinto|Nobelin fysiikanpalkinnon]] [[1914]] ja Braggit [[1915]]. Laue-kuva tarkoittaa nykyään polykromaattisella röntgensäteilyllä otettua diffraktiokuviota yksittäiskiteestä. Braggien nimi taas jäi elämään [[Braggin laki|Braggin laissa]], johon röntgendiffraktion käyttö menetelmänä tänäkin päivänä suurelta osin perustuu.
 
Rivi 15:
[[Röntgendiffraktio|Diffraktio]]ilmiössä röntgensäteen sironta tapahtuu [[koherentti säteily|koherentisti]] koko kiteestä eikä säteilyn [[energia]] muutu sironnassa. Sironneen säteilyn kulma riippuu kiteen hilatasojen välimatkasta. Röntgensäteet vuorovaikuttavat elektronien kanssa kuitenkin myös muilla tavoin. Näitä vuorovaikutusprosesseja ovat [[valosähköinen ilmiö]] ja [[epäelastinen röntgensironta]], missä osa [[fotoni]]n energiasta siirtyy elektronille.
 
Diffraktioilmiö nähdään, kun diffraktoivan hilan tasojen välimatkan on suunnilleen sama kuin käytetyn säteilyn [[aallonpituus]]. Tämä selittää miksi juuri röntgendiffraktiolla saadaan tietoa atomitason järjestyksestä kiteissä. Röntgensäteilyn aallonpituus on noin [[Ångström|ångström]]in suuruusluokkaa, kuten myös atomien välimatka kiteessä. Myös pidempiaallonpituuksista säteilyä voitaisiin käyttää diffraktiotutkimuksessa. [[Ultraviolettisäteily|Ultravioletti]]- ja [[infrapunasäteily|infrapuna]]säteilyä käytetään kuitenkin lähinnä [[spektroskopia]]menetelmissä, koska näillä aallonpituusalueilla molekyylit absorboivat säteilyä voimaakkaammin kuin röntgenalueella.
 
==Sirontateoria==
Rivi 25:
 
==Mittausgeometria==
[[Kuva:X-ray_diffraction_transmissionray diffraction transmission.png|thumb|right|250px|Yksinkertaistettu kuva symmetrisestä läpäisygeometriasta. S on röntgensäteilyn lähde, O on näyte, D on ilmaisin, ja <math>2\theta</math> on sirontakulma. Heijastusgeometriassa näytteen pinta on katkoviivan suuntainen. Lähde ja ilmaisin liikkuvat symmetrisesti näytteen suhteen.]]
Kulmadispersiivisessä röntgendiffraktiomenetelmässä käytetään [[monokromaattinen säteily|monokromaattista säteilyä]]. Jauhediffraktiomenetelmässä yleisimmät mittausgeometriat ovat [[diffraktometri|röntgendiffraktometrillä]] mitatut symmetrinen läpäisy ja heijastus. Näissä menetelmissä jauhenäyte on puristettu laattamaiseksi. Läpäisygeometriassa sironneen säteilyn [[intensiteetti]]ä havainnoidaan sirontakulman <math>2\theta</math> funktiona yksiulotteisella ilmaisimella näytteen takaa ja heijastusgeometriassa samalta puolella kuin näytteeseen tuleva säteily. Myös epäsymmetrisiä menetelmiä voidaan käyttää, mutta silloin diffraktiokuvioon tehtävät korjaukset ovat hankalampia. Jauhenäyte voi olla myös sylinterin muotoinen.
Yksittäiskiteitä tutkittaessa kide asetetaan [[goniometri]]n päähän.
Rivi 32:
 
==Käsitteitä==
[[Kuva:Diffraction_sphere_de_resolutionDiffraction sphere de resolution.png|thumb|150px|right|Ewaldin palloja 2-ulotteisessa käänteishilassa (katkoviivoilla).]]
===Millerin indeksit===
Röntgendiffraktiossa diffraktiomaksimit, joita kutsutaan heijastuksiksi, numeroidaan [[Millerin indeksit|Millerin indekseillä]] ''hkl''. Heijastuksen Millerin indeksi ''hkl'' vastaa [[kide|kiteessä]] heijastustasoa (''hkl'').