Ero sivun ”Röntgendiffraktio” versioiden välillä
| [arvioimaton versio] | [arvioimaton versio] |
Poistettu sisältö Lisätty sisältö
kuva vaihdettu |
pEi muokkausyhteenvetoa |
||
Rivi 1:
[[Kuva:2D x-ray diffractometer at University of Helsinki in Finnish.JPG|thumb|250px|right|[[Diffraktometri|Röntgendiffraktometri]] [[Helsingin yliopisto]]n Fysikaalisten tieteiden laitoksella. Punainen nuoli osoittaa röntgensäteilyn suunnan tyhjiöputkessa ennen kuin se osuu näytteeseen. [[Röntgenputki|Röntgenputkesta]] tuleva röntgensäteily leikataan raoilla sopivan kokoiseksi ennen kuin se osuu näytteeseen. Näytteen läpi mennyt siroamaton säteily pysähtyy primäärisäteen pysäyttimeen eikä pääse ilmaisimelle asti. Sironnut säteily eli näytteen röntgendiffraktiokuvio havaitaan [[kuvalevyilmaisin|kuvalevyilmaisimella]].]]
'''Röntgendiffraktio''' (lyhenne '''XRD''', {{k-en|x-ray diffraction}}) on ilmiö, jossa [[röntgensäteily]] [[diffraktio|diffraktoituu]] [[kide|kiteestä]]. Säteilyn sirontakulma riippuu diffraktoivien tasojen välimatkasta. Siten röntgendiffraktio on myös materiaalitutkimuksen menetelmä, jolla saadaan tietoa [[kide|kiteisten]] aineiden [[atomi]]tason järjestyksestä, [[kiderakenne|kiderakenteesta]]. Röntgendiffraktiota käytetään muun muassa [[mineraali]]en ja kemiallisten yhdisteiden tunnistamisessa sekä uusien materiaalien rakenteen tutkimuksessa.
Rivi 56:
==Englanninkielistä kirjallisuutta==
'''Röntgendiffraktion teoriaa'''
*{{kirjaviite|Tekijä=L. V. Azároff, R. Kaplow, N. Kato, R. J. Weiss, A. J. C. Wilson ja R. A. Young|Nimeke=X-ray diffraction|Vuosi=1974|Julkaisija=McGraw-Hill}}
* {{Kirjaviite | Tekijä=Guinier, A. | Nimeke= X-Ray Diffraction: In Crystals, Imperfect Crystals, and Amorphous Bodies |Julkaisija=Dover Publications | Vuosi=1994 | Tunniste=ISBN 0486680118}}
| |||