Ero sivun ”Röntgentutkimus” versioiden välillä
| [katsottu versio] | [katsottu versio] |
Poistettu sisältö Lisätty sisältö
Ei muokkausyhteenvetoa |
|||
Rivi 67:
[[Teollisuus|Teollisuudessa]] säteilyä hyödynnetään esimerkiksi materiaalien laadunvalvonnassa, [[säiliö]]iden pinnankorkeuden mittauksessa, [[paperi]]n paksuuden ja koostumuksen seurannassa. Teollisuusprosessien seurantaan käytettävät laitteet koostuvat [[Radioaktiivisuus|radioaktiivista]] ainetta sisältävästä säteilylähteestä ja säteilyä mittaavasta ilmaisimesta.<ref name="teollisr">{{Verkkoviite | Osoite = http://www.stuk.fi/sateilyn_kaytto/fi_FI/teollisuus/ | Nimeke = Säteilyn käyttö teollisuudessa | Tekijä = STUK | Ajankohta = 27.4.2009 | Julkaisija = STUK | Viitattu = 17.1.2011 | Kieli = Suomi}}</ref>
Kaivosteollisuudessa käytetään paljon röntgenfluoresenssispektroskopiaksi nimettyä kuvantamistekniikkaa. Menetelmässä tutkitaan röntgensäteilyn avulla aineen lähettämää karakteristista säteilyä. Karakteristisen säteilyn avullaan näytteen atomit voidaan tunnistaa. Menetelmän etuna on, että sen avulla pystytään tutkimaan suhteeliseen suuria näytteitä.<ref name="xrf">{{Verkkoviite | Osoite = http://serc.carleton.edu/research_education/geochemsheets/techniques/XRF.html | Nimeke = X-Ray Fluorescence (XRF) | Tekijä = Karl Wirth, Andy Barth | Julkaisu = Geochemical Instrumentation and Analysis | | Julkaisija = Integrating Research and Education | Viitattu = 21.5.2011 | Kieli = {{en}}}}</ref><ref name="suomixrf">{{Verkkoviite | Osoite = http://www.sgs.fi/fi-FI/Mining/Analytical-Services/Geochemistry/X-Ray-Fluorescence.aspx | Nimeke = RÖNTGENSÄDEFLUORESENSSIANALYSOINTI | Tekijä = SGS | Julkaisu = Analyysipalvelut | Julkaisija =SGS Suomi | Viitattu = 21.5.2013}}</ref>
Teollisuusradiografia on ainetta rikkomaton testausmenetelmä, jolla tarkastetaan muun muassa metallirakenteiden ja [[hitsaus|hitsaussaumojen]] virheettömyyttä. Periaate on sama kuin lääketieteellisessä kuvauksessa: Säteily läpäisee tutkittavan kappaleen ja valottaa sen taakse asetetun röntgenfilmin tai ilmaisimen. Radiografialaitteissa käytetään säteilyn synnyttämiseen joko suuritehoista [[röntgenputki|röntgenlaitetta]] tai paksuimmille materiaaleille [[gammasäteily|gammalähdettä]] tai [[lineaarikiihdytin]]tä.<ref name="teollisr"></ref>
Rivi 78 ⟶ 80:
Röntgenkuvauksilla tutkitaan esimerkiksi taidemaalareiden maalaustekniikoita ja varmistetaan taideteoksien aitoutta.<ref>http://www.hs.fi/kulttuuri/artikkeli/Da+Vincin+maalaustapaa+yritet%C3%A4%C3%A4n+selvitt%C3%A4%C3%A4+r%C3%B6ntgens%C3%A4teill%C3%A4/1135258620853</ref><ref>http://www.artexpertswebsite.com/scientific-tests/x-ray-examination.php</ref>
Kiteiden koostusmusta ja kolmiulotteista rakennetta voidaan tutkia [[röntgendiffraktio]]kuvauksilla. Röntgendiffraktiokuvauksissa röntgenputkesta säteytetään tutkittavaa näytettä ja ilmaisin rekistöröi tutkittavasta aineesta röntgensäteilyn sirontakuvion. Sirontakuviosta voidaan päätellä tutkittavan näytteen alkuaineet ja molekyylirakenne. Menetelmä on hyödyllinen kemian ja biologian tutkimuksessa.<ref name="
== Röntgenkuvauslaitteisto ==
Natiivi- eli tavallisen varjoaineettoman projektioröntgenkuvauksen laitteisto koostuu säteilyn lähteen laitteistosta ja röntgenfilmistä tai ilmaisimesta. Röntgenfilmin kehitystä varten tarvitaan lisäksi [[pimiö]] ja digitaalisessa kuvantamisessa tarvitaan digitaalinen kuvankehitys- ja tarkastelulaitteisto. Säteilyn lähteenä röntgentutkimuksissa on tavallisesti röntgenputki. Teollisuudessa lineaarikiihdyttimellä tai gammalähteellä tehtyjä tutkimuksia kutsutaan joskus virheellisesti röntgentutkimuksiksi. Röntgenfluoresenssispektroskopiassa röntgenlaitteiston asettelu poikkeaa tavallisesta röntgenkuvauksesta.<ref name="xrf"
=== Säteilyn tuottaminen===
Rivi 99 ⟶ 101:
[[Kuva:DmwdxrfFlatXtalMonochrom.jpg|thumb|right|230px|Röntgenfluoresenssispektroskopian laitteiston rakennekuva.]]
Kaivosteollisuudessa ja alkuainemäärityksessä perinteisesti käytetty röntgenfluoresenssispektroskopia (XRF, X-Ray Fluorescence) eroaa laitteistoltaan ja kuvausperiaatteeltaan tavallisesta röntgenkuvauksesta. XRF:ssä tutkittavaan kohdettä säteytetään röntgensäteillä kuten normaalissa kuvauksessa, mutta ilmaisimet tutkivat kohdeaineen karakteristista säteilyä. Eri [[alkuaine|alkuaineet]] lähettävät erisuuruista diskreettiä energiaa karakteristisena säteilynä, joten alkuaineet voidaan tunnistaa tarkasti.<ref name="xrf" /><ref name="suomixrf"
=== Digitaalinen kuvankatselu ja arkistointi röntgentutkimuksissa ===
| |||