Avaa päävalikko

Muutokset

280 merkkiä lisätty ,  8 vuotta sitten
ei muokkausyhteenvetoa
'''Elektronimikroskooppi''' (EM) on [[mikroskooppi]], jossa käytetään näkyvän valon sijasta elektronisuihkua. Tämä mahdollistaa tavallista valomikroskooppia huomattavasti pienempien yksityiskohtien havaitsemisen. Ensimmäisen elektronimikroskoopin rakensi saksalainen fyysikko [[Ernst Ruska]] vuonna [[1932]] toisen saksalaisen fyysikon [[Max Knoll]]in kanssa. Ruskalle myönnettiin [[Nobelin fysiikanpalkinto]] vuonna [[1986]]. Suomen ensimmäisen elektronimikroskoopin rakensi [[Alvar Wilska]].
 
Elektronimikroskoopin erottelukyky on parhaillaanparhaimmillaan noin 2 nanometriä.<ref name="BI5">{{BI5|163}}</ref> Sillä voidaan siis erottaa huomattavasti pienempiä rakenteita kuin [[valomikroskooppi|valomikroskoopilla]]. Elektronimikroskoopilla voidaan erottaa [[solu]]sta eri soluorganelleja, kun taas valomikroskoopilla erotetaan lähinnä [[solukalvo]], [[solulima]] ja [[tuma]].
 
== Elektronimikroskoopin periaatetoimintaperiaate ==
 
Elektronimikroskoopit jaetaan kahteen perustyyppiin: läpäisyelektronimikroskooppeihin ja pyyhkäisyelektronimikroskooppeihin. Lisäksi voidaan käyttää näiden tekniikoiden yhdistelmää.
=== Elektronitykki ja säteen ohjaus ===
Elektronimikroskoopin [[elektroni]]suihku muodostetaan mikroskoopin ylimmässä osassa, [[Elektronitykki|elektronitykissä]]. Tykki on sisältä tyhjiö, niin kuin koko mikroskoopin sisäosat. Tykin sisällä on hehkulanka, josta irrotetaan elektroneja korkean jännitteen (20-1000 kV) avulla. Kiihdytetyt elektronit ohjataan mikroskoopin optiikkaan, joka koostuu sähkömagneettilinsseistä ja apertuureista. Elektronisuihku käyttäytyy kuten hiukkassuihku ja sitä voidaan fokusoida ja poikkeuttaa magneettilinssien avulla.
 
1. Läpäisyelektonimikroskoopilla ('''TEM''', Transmission Electron Microscope) kuva muodostetaan fluoresoivalle levylle. Tämä tapahtuu siten, että näytteen läpi ohjataan elektroneja magneettilinssien avulla.
=== Kuvan muodostaminen ===
Elektroneilla voidaan muodostaa kuva seuraavilla tavoilla:
*1. Skannataan näytteen pintaa elektronisuihkulla ja muodostetaan kuva takaisin sironneiden elektronien tai ns. sekundäärielektronien avulla
*2. Skannataan ohuen näytteen pintaa elektronisuihkulla ja muodostetaan kuva läpimenneiden elektronien avulla
*3. Kohdistetaan suihku sopivan leveänä ohuen näytteen pintaan ja muodostetaan läpimenneillä elektroneilla kuva fluresoivalle levylle
 
3. Pyyhkäisyelektronimikroskoopilla ('''SEM''', Scanning Electron Microscope) kuva muodostetaan näyttöruudulle elektroneista, jotka irtoavat tai heijastuvat näytteen pinnasta. Näin saatu pintakuva näyttää pinnanmuodot hyvin yksityiskohtaisesti.
Kohdan 1. kuvan muodostukseen käytetään ns. pyyhkäisyelektronimikroskooppia (engl. Scanning Electron Microscope, '''SEM'''), kohdan 2. kuvan muodostukseen ns. pyyhkäisy-läpivalaisuelektronimikroskooppia (engl. Scanning Transmission Electron Microscope,''' STEM''') ja kohdan 3. kuvan muodostukseen ns. läpivalaisuelektronimikroskooppia (engl. Transmission Electron Microscope, '''TEM''').
 
3. Kolmas tekniikka yhdistää edellä mainitut kaksi perustyyppiä. Sitä kutsutaan pyyhkäisy-läpivalaisuelektronimikroskoopiksi (''' STEM''', Scanning Transmission Electron Microscope). Mikroskoopilla skannataan ohuen näytteen pintaa elektronisuihkulla ja muodostetaan kuva läpimenneiden elektronien avulla
 
4. Näytteiden pinnanmuotoja voidaan kuvata myös pyyhkäisytunnelointimikroskoopilla, joskin sen toimintaperiaate poikkeaa täysin tavanomaisista elektronimikroskoopeista.
 
=== Elektronitykki ja säteen ohjaus ===
Elektronimikroskoopin [[elektroni]]suihku muodostetaan mikroskoopin ylimmässä osassa, [[Elektronitykki|elektronitykissä]]. Tykki on sisältä tyhjiö, niin kuin koko mikroskoopin sisäosat. Tykin sisällä on hehkulanka, josta irrotetaan elektroneja korkean jännitteen (20-1000 kV) avulla. Kiihdytetyt elektronit ohjataan mikroskoopin optiikkaan, joka koostuu sähkömagneettilinsseistä ja apertuureista. Elektronisuihku käyttäytyy kuten hiukkassuihku ja sitä voidaan fokusoida ja poikkeuttaa magneettilinssien avulla.
 
=== Elektronidiffraktio ===
1 878

muokkausta