Ero sivun ”Tilastollinen prosessinohjaus” versioiden välillä
[arvioimaton versio] | [arvioimaton versio] |
Poistettu sisältö Lisätty sisältö
Rivi 17:
==SPC valmistusprosessin hallinnassa==
Usein SPCtä käytetään [[valmistusprosessi]]n hallintaan. Hallinta aloitetaan tunnistamalla [[tuote|tuotteen]] [[laatu]]un vaikuttavat [[prosessi]]n parametrit
Jotta nämä suhteet kyettäisiin arvioimaan oikein ja perusteellisesti, on siitä muodostettava tilastollinen malli. Mallin muodostaa funktio f(x), jonka määrittää [[parametri]]n x ja sitä vastaavan funktioarvon välisen riippuvuuden. Koska prosessit riippuvuudet ovat tavallisesti erittäin monimutkaisia ja vaikuttavia muuttujia on hyvin paljon, ei täysin kaiken kattavaa mallia kyetä muodostamaan. Tästä syystä mallin laatimista varten tarvitaan todellisia mittaustuloksia, joiden perusteella voidaan laskea prosessin suoriutumisarvot. Mitä paremmin tällainen malli vastaa todellisuutta, sitä helpompi sen avulla on hallita prosessia.
Keskeinen osa valmistusprosessin hallintaa on valvontakortit. Valvontakorttitekniikan tarkoitus on mitata ja vähentää prosessivaihteluita. Niiden avulla kyetään erottamaan erilaiset vaihtelutyypit: prosessille ominaiset satunnaisvaihtelut, sekä erilaiset häiriöt. Tilanne, jossa saavutettuun tulokseen vaikuttaa ainoastaan satunnaisvaihtelu, on kyseessä tilastollisesti hallittu prosessi. On huomattava, että kaikisaa prosesseissa tapahtuu hajontaa, mutta mikäli se tapahtuu [[toleranssi]]en sisällä, ei se aiheuta esimerkiksi hylkäyksen vaatimia tuotteita.
==SPC tuotteen suunnittelussa==
|