Ero sivun ”Röntgendiffraktio” versioiden välillä

[[Kuva:2D x-ray diffractometer at University of Helsinki in Finnish.JPG|thumb|250px|right|[[Diffraktometri|Röntgendiffraktometri]] [[Helsingin yliopisto]]n Fysikaalisten tieteiden laitoksella. Punainen nuoli osoittaa röntgensäteilyn suunnan tyhjiöputkessa ennen kuin se osuu näytteeseen. [[Röntgenputki|Röntgenputkesta]] tuleva röntgensäteily leikataan raoilla sopivan kokoiseksi ennen kuin se osuu näytteeseen. Näytteen läpi mennyt siroamaton säteily pysähtyy primäärisäteen pysäyttimeen eikä pääse ilmaisimelle asti. Sironnut säteily eli näytteen röntgendiffraktiokuvio havaitaan [[kuvalevyilmaisin|kuvalevyilmaisimella]].]]

'''Röntgendiffraktio''' (lyhenne '''XRD''', {{k-en|x-ray diffraction}}) on ilmiö, jossa [[röntgensäteily]] [[diffraktio|diffraktoituu]] [[kide|kiteestä]]. Säteilyn sirontakulma riippuu diffraktoivien tasojen välimatkasta. Siten röntgendiffraktio on myös materiaalitutkimuksen menetelmä, jolla saadaan tietoa [[kide|kiteisten]] aineiden [[atomi]]tason järjestyksestä, [[kiderakenne|kiderakenteesta]]. Röntgendiffraktiota käytetään muun muassa [[mineraali]]en ja kemiallisten yhdisteiden tunnistamisessa sekä uusien materiaalien rakenteen tutkimuksessa.