Ero sivun ”Röntgendiffraktio” versioiden välillä

'''Röntgendiffraktio''' (lyhenne '''XRD''', {{k-en|x-ray diffraction}}) on materiaalitutkimuksen menetelmä, jolla saadaan tietoa [[kide|kiteisten]] aineiden [[atomi]]tason järjestyksestä. Menetelmä perustuu [[röntgensäteily]]n [[diffraktio]]on tutkittavasta aineesta.

 

 

==Röntgensäteilyn vuorovaikutus aineen kanssa==

Röntgensäteily läpäisee helposti keveitä alkuaineita sisältäviä materiaaleja. Siksi sitä käytetäänkin paljon lääketieteessä, missä läpivalaisu röntgenlaitteella paljastaa murtumakohdat luissa johtuen kudoksen ja luiden erilaisesta [[absorptio (sähkömagneettinen säteily)|absorptiosta]]. Röntgendiffraktio ei kuitenkaan perustu alkuaineiden erilaisiin absorptiokertoimiin vaan niiden kykyyn sirottaa röntgensäteilyä. [[Atomin sirontatekijä|Atomien sirontatekijät]] ''f'' kertovat, miten atomit sirottavat säteilyä. Koska röntgensäteet vuorovaikuttavat lähinnä vain atomien [[elektroni]]en kanssa, sirontatekijöiden suuruus riippuu lineaarisesti alkuaineen elektronien määrästä eli järjestysluvusta ''Z''. Näin ollen röntgensäteilyä siroaa enemmän raskaista alkuaineista kuin keveistä. Toisin on esimerkiksi [[neutronidiffraktio]]ssa, missä vastaavaa lineaarista riippuvuutta ei ole.

 

 

==Historia==

===Millerin indeksit===

 

 

===Braggin laki===