Ero sivun ”Kryoelektronimikroskopia” versioiden välillä

[katsottu versio][katsottu versio]
Poistettu sisältö Lisätty sisältö
parantelua
Ei muokkausyhteenvetoa
Rivi 15:
 
{| class="wikitable"
|+Yleisten rakennebiologian menetelmien vertailu<ref>{{Verkkoviite|osoite=https://www.creative-biostructure.com/comparison-of-crystallography-nmr-and-em_6.htm|nimeke=Comparison of Crystallography, NMR and EM - Creative Biostructure|tekijä=|julkaisu=www.creative-biostructure.com|ajankohta=|julkaisija=|arkisto=https://web.archive.org/web/20171114040238/https://www.creative-biostructure.com/comparison-of-crystallography-nmr-and-em_6.htm|arkistoitu=17.11.2017|viitattu=2017-11-13|ietf-kielikoodi=en}}</ref> vuodelta 2017<ref>{{Verkkoviite|osoite=https://web.archive.org/web/*/https://www.creative-biostructure.com/comparison-of-crystallography-nmr-and-em_6.htm|nimeke=Wayback Machine|julkaisu=web.archive.org|viitattu=2018-03-24|ietf-kielikoodi=en}}</ref>
!Menetelmä
!Edut
Rivi 75:
 
== Muut näytteet ==
Kryo-EM:ää voidaan käyttää myös kuvaamaan näytteitä, jotka ovat liian helposti [[Haihtuminen|haihtuvia]] huoneenlämmössä tapahtuvalle tavalliselle elektronimikroskooppiselle kuvantamiselle. Kryo-EM:ää voidaan käyttää esim. neste-kiinteä rajapintojen tutkimiseen<ref>{{Lehtiviite|Tekijä=Michael J. Zachman, Emily Asenath-Smith, Lara A. Estroff, Lena F. Kourkoutis|Otsikko=Site-Specific Preparation of Intact Solid-Liquid Interfaces by Label-Free In Situ Localization and Cryo-Focused Ion Beam Lift-Out|Julkaisu=Microscopy and Microanalysis: The Official Journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada|Ajankohta=Decemberjoulukuu 2016|Numero=6|Sivut=1338–1349|Pmid=27869059|Doi=10.1017/S1431927616011892|Issn=1435-8115|www=https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27869059}}</ref> tai vaikka [[Rikki|rikin]] rakennetutkimukseen, sillä rikki sublimoituu helposti elektronimikroskoopin vakuumissa huoneenlämmössä.<ref>{{Lehtiviite|Tekijä=Barnaby D. A. Levin, Michael J. Zachman, Jörg G. Werner, Ritu Sahore, Kayla X. Nguyen, Yimo Han|Otsikko=Characterization of Sulfur and Nanostructured Sulfur Battery Cathodes in Electron Microscopy Without Sublimation Artifacts|Julkaisu=Microscopy and Microanalysis: The Official Journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada|Ajankohta=Februaryhelmikuu 2017|Numero=1|Sivut=155–162|Pmid=28228169|Doi=10.1017/S1431927617000058|Issn=1435-8115|www=https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28228169}}</ref>
 
== Katso myös ==